IEEE design & test of computers /

IEEE design & test of computers / IEEE des. test comput.

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor corporatiu: IEEE Computer Society., Institute of Electrical and Electronics Engineers.
Idioma:Inglés
ISSN:0740-7475 1
Publicat: Los Alamitos, CA : IEEE Computer Society, c1984-
Accés en línia:http://ieeexplore.ieee.org/servlet.opac?punumber=54
Publicació relacionada:Forma phasic adicional: IEEE design & test of computers
Forma phasic adicional: IEEE design & test of computers

Ítems similars