IEEE design & test of computers / IEEE des. test comput.
Guardado en:
Autores Corporativos: | IEEE Computer Society., Institute of Electrical and Electronics Engineers. |
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Idioma: | Inglés |
ISSN: | 0740-7475 1 |
Publicado: |
Los Alamitos, CA :
IEEE Computer Society,
c1984-
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Acceso en línea: | http://ieeexplore.ieee.org/servlet.opac?punumber=54 |
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