IEEE design & test of computers / IEEE des. test comput.
Guardado en:
| Autores Corporativos: | , |
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| Idioma: | Inglés |
| ISSN: | 0740-7475 1 |
| Publicado: |
Los Alamitos, CA :
IEEE Computer Society,
c1984-
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| Acceso en línea: | http://ieeexplore.ieee.org/servlet.opac?punumber=54 |
| Títulos relacionados: | Forma adicional:
IEEE design & test of computers Forma adicional: IEEE design & test of computers |
[B-CSIC-IMB-CNM] Centro Nacional de Microelectrónica
(1985)86-2010.
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